Tektronix BSA260C Tester di velocità di errore di bit
Tektronix BSA260C Bit Error Rate Tester
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Il Tester di velocità di errore di bit Tektronix BSA260C fornisce generazione di pattern ad alta velocità e analisi degli errori fino a 28,6 Gb/s con analisi integrata del diagramma dell'occhio.
Dettagli prodotto
| Modello | BSA260C |
| Produttore | Tektronix |
| Categoria | Test di Velocità di Errore in Bit |
| Disponibilità | Su ordinazione |
Descrizione
Panoramica
Il Tektronix BSA260C BERTScope Tester di velocità di errore di bit fornisce misurazioni complete dell'integrità del segnale per sistemi di dati seriali. Combina l'analisi del diagramma dell'occhio con la generazione di pattern BER per isolare rapidamente sequenze di bit e pattern problematici, quindi analizzare ulteriormente con tecniche avanzate di analisi degli errori.
Caratteristiche principali
- Generazione di pattern e analisi degli errori con misurazioni BER ad alta velocità fino a 28,6 Gb/s
- Tempo di salita dell'ingresso veloce e rivelatore di errori ad alta larghezza di banda di ingresso per un'analisi accurata dell'integrità del segnale
- Analisi integrata del diagramma dell'occhio con correlazione BER
- Error Location Analysis™ brevettata per una rapida comprensione dei limiti di prestazione BER
- Decomposizione completa del jitter inclusa l'analisi del jitter di pattern lungo (PRBS-31)
- Generazione di stress calibrata integrata con jitter sinusoidale fino a 100 MHz
- Suite di test dello strato fisico con test della maschera, picco di jitter, contorno BER e analisi del fattore Q
- Supporto per modelli standard di tolleranza del jitter e librerie definite dall'utente
Applicazioni
- Test dei ricevitori PCIe 2.0 e 3.0
- Test dell'occhio con stress elettrico Ethernet 10/40/100 Gb
- Test del canale in fibra (FC8, FC16, FC32) e IEEE 802.3ba
- Analisi dell'integrità del segnale SFP+/SFI, OIF/CEI e InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR)
- Test dei protocolli di dati seriali SATA, USB 3.1 e altri
Specifiche tecniche
| Maximum BER Speed | 28.6 Gb/s |
| Pattern Generation | Yes |
| Error Analysis Type | Bit error rate with error location analysis |
| Eye Diagram Analysis | Integrated with BER correlation |
| Jitter Analysis | Comprehensive decomposition with PRBS-31 support |
| Sinusoidal Jitter Range | 0 to 100 MHz |
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