Scheda Matrice Keithley 7072

Panoramica

Keithley 7072 è una scheda matrice per semiconduttori progettata per misurazioni a basso livello e ad alta impedenza nel test parametrico dei semiconduttori su wafer e dispositivi. Fornisce più percorsi di segnale ottimizzati per misurazioni sensibili sub-picoampere e caratterizzazione capacità-tensione.

Caratteristiche Principali

• Due percorsi di corrente sub-picoampere a 1300V con corrente di offset massima 1pA
• Sei percorsi di segnale a 200V, 20pA
• Percorsi C-V per misurazioni da capacità a tensione da DC a 1MHz
• Connessioni triassiali a 3 poli per integrità del segnale a basso rumore
• Compatibile con gli scanner dei modelli 707A, 707B, 708A e 708B
• Uso con Model 2410 e Model 237 SMU (Source Measure Unit)

Applicazioni

• Test parametrico dei semiconduttori su wafer
• Caratterizzazione dei dispositivi
• Misurazioni a corrente bassa e ad alta impedenza
• Caratterizzazione capacità-tensione (C-V)