Tester di scariche parziali Chroma 19501-K

Panoramica

Il Chroma 19501-K Partial Discharge Tester è uno strumento di precisione progettato per il test di componenti semiconduttori ad alta tensione e materiali isolanti. Combina il test di spunto AC con capacità di rilevamento delle scariche parziali (PD), applicando una tensione controllata per rilevare rotture dielettriche locali e verificare l'affidabilità a lungo termine nelle condizioni di funzionamento. Lo strumento impiega unità di misura e visualizzazione separate per ridurre al minimo l'interferenza del rumore ambientale, critico per rilevare segnali di micro-scariche.

Caratteristiche principali

• Funzioni integrate di test di spunto AC e rilevamento di scariche parziali
• Tensione di spunto AC programmabile: 0.1–10 kVac
• Misurazione della corrente ad alta precisione: 0.01 μA a 300 μA con alta risoluzione
• Intervallo di rilevamento di scariche parziali: 1–2000 pC con risoluzione 0.1 pC nell'intervallo 200 pC
• Funzione di verifica del contatto ad alta tensione (HVCC) per verifica della sicurezza
• Capacità di test di tensione a tre stadi
• Unità di misura e visualizzazione separate per rumore ambientale minimo
• Design di isolamento del segnale integrato e schermatura con anello di rame nel punto di misura
• Conformità agli standard di test IEC 60747-5-5 per optoaccoppiatori
• Supporto agli standard di calibrazione ad alta tensione IEC 60270-1
• Interfaccia utente grafica con impostazioni regolabili e funzioni di cursore/trigger
• Interfaccia multilingue per il funzionamento globale
• Archiviazione USB per acquisizione dello schermo e documentazione dei test
• Interfacce di controllo remoto standard: LAN, USB, RS232

Applicazioni

• Test di qualificazione dei componenti semiconduttori ad alta tensione
• Verifica dell'integrità dell'isolamento dell'optoaccoppiatore
• Valutazione dell'affidabilità a lungo termine dei componenti elettrici
• Controllo qualità della linea di produzione e test su lotti
• Ricerca e sviluppo per materiali ad alta tensione
• Analisi dei guasti dei componenti e diagnostica