Unità generatrice di forme d'onda/misurazione veloce Keysight B1530A
Keysight B1530A Waveform Generator/Fast Measurement Unit
Keysight B1530A integra la generazione di forme d'onda e la misurazione IV ad alta velocità con tecnologia SMU dinamica, eliminando gli effetti della linea di carico per misurazioni di impulsi e transitorie precise.
Dettagli prodotto
| Modello | B1530A |
| Produttore | Keysight |
| Categoria | Analizzatori LCR e di Impedenza |
| Disponibilità | Su ordinazione |
Descrizione
Panoramica
Keysight B1530A Waveform Generator/Fast Measurement Unit (WGFMU) è un modulo specializzato per l'analizzatore di parametri semiconduttori B1500A progettato per misurazioni IV ultra-veloci, IV pulsate e IV transitorie. Integra la generazione di forme d'onda arbitrarie con capacità di misurazione simultanea ad alta velocità, utilizzando la tecnologia SMU dinamica proprietaria di Keysight per eliminare gli effetti della linea di carico che affliggono le combinazioni tradizionali di generatore di impulsi e oscilloscopio.
B1530A affronta l'esigenza critica di caratterizzazione accurata dei dispositivi semiconduttori di prossima generazione, in particolare per le misurazioni di affidabilità dipendenti dal tempo che sono diventate sempre più importanti nello sviluppo di dispositivi avanzati.
Caratteristiche principali
- Generazione di forme d'onda arbitrarie con risoluzione programmabile 10 ns (uscita di picco-picco 10V)
- Misurazione della tensione/corrente ad alta velocità a 200 MSa/s (frequenza di campionamento 5 ns)
- Uscita a doppio canale per misurazioni simultanee multi-punto
- Capacità di ranging dinamico per misurazione accurata su ampi intervalli di corrente
- Misurazioni di impulsi e transitorie prive di effetti della linea di carico utilizzando tecnologia SMU dinamica
- Risoluzione di misurazione che supporta sensibilità a livello di femtoampere
Applicazioni
- Caratterizzazione ultra-veloce NBTI (Negative Bias Temperature Instability) e PBTI (Positive Bias Temperature Instability)
- Misurazione del rumore Random Telegraph Signal (RTN)
- Test di affidabilità e caratterizzazione di dispositivi semiconduttori avanzati
- Misurazione dei parametri dei dispositivi dipendenti dal tempo
Specifiche tecniche
| Arbitrary Waveform Resolution | 10 ns |
| Output Voltage | 10 V peak-to-peak |
| Measurement Speed | 200 MSa/s |
| Sampling Rate | 5 ns |
| Channels | 2 (dual) |
| Measurement Sensitivity | Femtoamp level |
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Unità generatrice di forme d'onda/misurazione veloce Keysight B1530A