Keysight B2911A Unità Source Measure

Panoramica

Keysight B2911A è un'unità source/measure di precisione compatta a canale singolo progettata per compiti di misurazione IV versatili che richiedono elevata precisione e risoluzione. Fornisce un ampio intervallo di uscita di ±210 V, ±3 A DC, e ±10.5 A impulsiva con risoluzione di misurazione fine come 10 fA per la corrente e 100 nV per la tensione. Le capacità integrate di sourcing e misurazione a 4 quadranti consentono la caratterizzazione elettrica accurata di un'ampia varietà di dispositivi senza richiedere più strumenti o configurazioni complesse.

L'unità presenta un intuitivo display LCD a colori da 4.3 pollici con modalità di visualizzazione grafica e numerica, consentendo una configurazione veloce e la visualizzazione dei dati direttamente dal pannello anteriore. Le capacità integrate di generazione di forma d'onda arbitraria e digitalizzazione con intervalli di 10 microsecondi forniscono una flessibilità estesa per la caratterizzazione elettrica dinamica. Molteplici opzioni di controllo software e supporto dei comandi SCPI consentono l'integrazione senza problemi negli ambienti di test automatizzati e il supporto per la compatibilità con comandi SMU convenzionali.

Caratteristiche Principali

• Configurazione a canale singolo con sourcing e misurazione a 4 quadranti
• Uscita massima 210 V, 3 A DC / 10.5 A di corrente impulsiva
• Risoluzione source e misurazione 10 fA/100 nV
• Capacità integrate di sourcing a 4 quadranti di tensione e corrente
• Display LCD a colori da 4.3 pollici con modalità di visualizzazione grafica e numerica
• Generazione di forma d'onda arbitraria e digitalizzazione da intervalli di 10 microsecondi
• Misurazione ad alto throughput con supporto comandi SCPI
• Interfacce USB, LAN, GPIB, e I/O digitale per integrazione flessibile

Applicazioni

• Caratterizzazione di dispositivi ottici (diodi laser, fotodiodi)
• Test di dispositivi organici (OLED)
• Caratterizzazione di celle fotovoltaiche
• Test di materiali in nanotecnologia
• Test di dispositivi di gestione dell'alimentazione (LDO, regolatori)
• Caratterizzazione di dispositivi semiconduttori (FET, transistor, diodi)
• Test di componenti e applicazioni R&S