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Analizzatore di Impedenza Hioki IM3570

Hioki IM3570 Impedance Analyzer

Hioki · Modello: IM3570 Su ordinazione
Analizzatore di Impedenza Hioki IM3570
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L'Analizzatore di Impedenza Hioki IM3570 combina misurazioni LCR, DCR e di sweep con gamma da 4 Hz a 5 MHz e precisione ±0,08% in una singola unità compatta.

Modello IM3570
Produttore Hioki
Categoria Misuratori LCR
Disponibilità Su ordinazione

Panoramica

L'Hioki IM3570 Analizzatore di Impedenza è uno strumento di misurazione multifunzionale che consolida capacità LCR, DCR (resistenza in corrente continua) e di sweep di frequenza in una singola unità. L'analizzatore è progettato per test continui ad alta velocità, consentendo alle linee di ispezione che in precedenza richiedevano più strumenti di operare con un solo dispositivo.

Con frequenze di misurazione da 4 Hz a 5 MHz, livelli di segnale di test da 5 mV a 5 V e velocità di test fino a 0,5 millisecondi a 100 kHz, l'IM3570 è ideale per caratterizzare la risonanza negli elementi piezoelettrici, condensatori a bassa ESR e fattori di qualità dell'induttore.

Caratteristiche Principali

  • Modalità di misurazione: LCR, DCR, Sweep e Continua
  • Gamma di frequenza: 4 Hz a 5 MHz con livelli di segnale di test variabili (5 mV a 5 V)
  • Velocità di test: 1,5 ms a 1 kHz, 0,5 ms a 100 kHz
  • Precisione di base (parametro Z): ±0,08%
  • Modalità di analizzatore: sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni di intervallo di tempo
  • Commutazione rapida delle condizioni: modifica rapidamente i parametri di misurazione tra i test
  • Analisi delle caratteristiche di risonanza: valutazione degli elementi piezoelettrici
  • Misurazione a bassa ESR: test di condensatori in polimero funzionale
  • Test dell'induttore: misurazione DCR e L-Q di bobine e trasformatori

Applicazioni

  • Analisi delle caratteristiche di risonanza degli elementi piezoelettrici
  • Misurazione di bassa ESR e C-D dei condensatori in polimero funzionale
  • Misurazione DCR e L-Q dell'induttore per bobine e trasformatori
  • Caratterizzazione automatizzata ad alta velocità dei componenti in produzione
  • Ricerca e sviluppo di componenti elettronici
  • Test di assicurazione della qualità con più condizioni di misurazione
Measurement Modes LCR, DCR, Sweep, Continuous
Frequency Range 4 Hz to 5 MHz
Test Signal Level 5 mV to 5 V
Test Speed (1 kHz) 1.5 ms
Test Speed (100 kHz) 0.5 ms
Basic Accuracy (Z parameter) ±0.08%
Analyzer Functions Frequency sweep, Level sweep, Time interval measurement
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