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Analizzatore di precisione Keysight E5270B IV

Keysight E5270B Precision IV Analyzer

Keysight · Modello: E5270B Su ordinazione
Analizzatore di precisione Keysight E5270B IV
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Keysight E5270B è un analizzatore corrente-tensione di precisione con risoluzione di misurazione a livello di femtoampere, architettura SMU modulare e software di caratterizzazione automatizzato per test dei dispositivi.

Modello E5270B
Produttore Keysight
Categoria Misuratori LCR
Disponibilità Su ordinazione

Panoramica

Keysight E5270B Precision IV Analyzer fornisce la caratterizzazione completa corrente-tensione per materiali, dispositivi, semiconduttori e componenti elettronici. Con architettura modulare che supporta fino a otto slot, fornisce prestazioni di misurazione della corrente leader del settore fino a 0,1 femtoampere, consentendo la caratterizzazione precisa dei dispositivi in un'ampia gamma di specifiche.

Caratteristiche principali

  • Risoluzione di misurazione della corrente fino a 0,1 fA con moduli SMU ad alta risoluzione
  • Intervallo di misurazione da 0,1 fA a 1 A per corrente e da 0,5 µV a 200 V per tensione
  • Capacità di misurazione spot e sweep, incluse misurazioni di impulsi con larghezza di impulso minima di 500 µs
  • Moduli configurabili e aggiornabili: SMU ad alta risoluzione (HRSMU), SMU a media potenza (MPSMU) e SMU ad alta potenza (HPSMU)
  • Unità di terra attiva (GNDU) nel mainframe in grado di forzare 0V e assorbire fino a 4A
  • Software di caratterizzazione basato su GUI EasyEXPERT group+ con analisi automatizzata ed esportazione dati
  • Convertitori analogico-digitali (ADC) ad alta risoluzione e ad alta velocità disponibili per tutti i moduli
  • ASU opzionale (atto-sense e unità di commutazione) per risoluzione di misurazione migliorata e commutazione del percorso SMU/AUX

Applicazioni

  • Caratterizzazione corrente-tensione di materiali e dispositivi
  • Test e valutazione dei dispositivi a semiconduttore
  • Caratterizzazione dei componenti attivi e passivi
  • Test a livello di wafer con integrazione della sonda wafer semiautomatica
  • SMU del componente di sistema per sistemi di test a rack
High Frequency (range) DC
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