Alimentatore DC programmabile Keithley 2230-60-3

Panoramica

Il Keithley 2230-60-3 è un alimentatore DC programmabile a tripla uscita ad alta tensione che fornisce fino a 375W di potenza in un involucro compatto da mezzo rack 2U. Con due canali 60V/3A più un canale ausiliario 5V/3A, fornisce la capacità di tensione più elevata richiesta per applicazioni di test avanzate. Tutti i canali sono controllati indipendentemente, isolati e sensati remotamente per una fornitura di potenza precisa in diversi scenari di test.

Caratteristiche principali

• Tre canali di uscita: due canali 60V/3A e un canale 5V/3A, 375W di potenza totale
• Tutti i canali controllati indipendentemente e isolati per la massima flessibilità di prova
• Rilevamento remoto su tutti i canali assicura che la tensione programmata sia accuratamente applicata al carico
• Due canali 60V forniscono un'uscita ad alta tensione diretta; possono essere combinati in parallelo per una capacità di corrente estesa
• Accuratezza della tensione di base 0,03% e accuratezza della corrente 0,1% con risoluzione della tensione 1mV e della corrente 1mA
• Regolazione lineare a basso rumore con ondulazione e rumore minimo
• Visualizzazione simultanea della tensione e della corrente per tutti e tre i canali
• Ingresso da tastiera del pannello anteriore per la programmazione rapida e precisa del valore di uscita
• Interfacce USB e RS-232 per il controllo remoto e l'integrazione del sistema di test automatizzato
• Supporto dei driver LabView e IVI per la registrazione dei dati e l'analisi con MatLab o software equivalente
• 36 posizioni di memoria di configurazione per la memorizzazione di configurazioni di test
• Timer di uscita per canale per il controllo automatico della durata del test

Applicazioni

• Test del circuito integrato analogico ad alta tensione e alta potenza
• Test e convalida del circuito automobilistico e di gestione dell'energia avanzata
• Circuiti dell'infrastruttura delle telecomunicazioni
• Circuiti del driver LED e circuiti di conversione dell'energia
• Test di dispositivi a semiconduttore e dispositivi ad alta tensione a banda larga