Applicazione Test a Doppio Impulso Tektronix SUP5-WBG-DPT Semiconduttori SiC GaN Ampia Banda
Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test Application
Applicazione test a doppio impulso Tektronix SUP5-WBG-DPT per la caratterizzazione e l'analisi di dispositivi semiconduttori a larga banda SiC e GaN su oscilloscopi MSO 5 Series.
Dettagli prodotto
| Modello | SUP5-WBG-DPT |
| Produttore | Tektronix |
| Categoria | Accessori per Oscilloscopi |
| Disponibilità | Su ordinazione |
Descrizione
Panoramica
Il Tektronix SUP5-WBG-DPT è un'applicazione di misurazione progettata per la piattaforma oscilloscopio MSO 5 Series, abilitando la caratterizzazione completa di dispositivi semiconduttori a banda larga (WBG) inclusi componenti in carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN). La metodologia test a doppio impulso (DPT) fornisce una valutazione accurata delle prestazioni del dispositivo, del comportamento di commutazione e delle caratteristiche termiche essenziali per lo sviluppo dell'elettronica di potenza.
Caratteristiche Principali
- Metodologia test a doppio impulso per la caratterizzazione completa del dispositivo
- Supporto per dispositivi semiconduttori a banda larga SiC e GaN
- Strumenti di analisi integrati per il comportamento di commutazione e le metriche di prestazione
- Integrazione perfetta con la piattaforma oscilloscopio MSO 5 Series
Applicazioni
- Caratterizzazione e validazione di dispositivi semiconduttori a banda larga
- Sviluppo di convertitori di potenza e inverter
- Valutazione delle prestazioni dei dispositivi di commutazione
- Ricerca e sviluppo nell'elettronica di potenza
Specifiche tecniche
| Application Type | Double Pulse Test (DPT) |
| Compatible Devices | SiC and GaN Wide-Bandgap Semiconductors |
| Compatible Platform | MSO 5 Series Oscilloscopes |
| License Type | NL (Non-Limited) |
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