Tektronix SUP6-WBG-DPT Test a doppio impulso SiC GaN a bandgap ampio
Tektronix SUP6-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test
SUP6-WBG-DPT è un'applicazione di test a doppio impulso per SiC/GaN a bandgap ampio per Tektronix 6 Series MSO, ottimizzata per la caratterizzazione dei semiconduttori di potenza.
Dettagli prodotto
| Modello | SUP6-WBG-DPT |
| Produttore | Tektronix |
| Categoria | Accessori per Oscilloscopi |
| Disponibilità | Su ordinazione |
Descrizione
Panoramica
L'applicazione Tektronix SUP6-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test estende l'oscilloscopio Tektronix 6 Series MSO con strumenti specializzati per l'analisi dei dispositivi a semiconduttore a bandgap ampio. Questo modulo software implementa metodologie di test a doppio impulso standard, consentendo ai progettisti di caratterizzare le prestazioni di commutazione, le perdite e la dinamica dei semiconduttori di potenza in carburo di silicio e nitruro di gallio.
Caratteristiche principali
- Struttura di test a doppio impulso per dispositivi a bandgap ampio
- Misurazione e analisi automatiche delle perdite di commutazione
- Caratterizzazione delle prestazioni di gate drive e commutazione
- Supporto integrato per l'analisi termica
- Estrazione dei parametri dei dispositivi SiC e GaN
Applicazioni
- Caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttore a bandgap ampio
- Sviluppo e ottimizzazione dei sistemi di conversione di potenza
- Analisi delle perdite di commutazione e miglioramento dell'efficienza
- Test di affidabilità e qualificazione dell'elettronica di potenza
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Tektronix SUP6-WBG-DPT Test a doppio impulso SiC GaN a bandgap ampio