Oscilloscopio Analizzatore di Campionamento Digitale Tektronix DSA8300
Tektronix DSA8300 Digital Sampling Analyzer Oscilloscope
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Il Tektronix DSA8300 è un oscilloscopio di campionamento digitale ad alta velocità per test delle comunicazioni ottiche e elettriche da 155 Mb/s a 400G PAM4 con jitter intrinseco inferiore a 100 femtosecondi.
Dettagli prodotto
| Modello | DSA8300 |
| Produttore | Tektronix |
| Categoria | Oscilloscopi |
| Disponibilità | Su ordinazione |
Descrizione
Panoramica
Il Tektronix DSA8300 è una piattaforma completa di test del livello PHY ad alta velocità per comunicazioni ottiche e elettriche. Con jitter intrinseco inferiore a 100 femtosecondi e supporto per velocità dei dati da 155 Mb/s a 400G PAM4, fornisce caratterizzazione del segnale precisa per test di conformità obbligatori dagli standard nelle comunicazioni dati moderne.
Caratteristiche Principali
- Jitter intrinseco: inferiore a 100 femtosecondi per eccezionale accuratezza di misura
- Moduli ottici che supportano velocità dei dati da 155 Mb/s a 400G PAM4
- Ricevitori di riferimento ottico (ORR) per test di conformità obbligatori dagli standard
- Campionatori elettrici con larghezze di banda selezionabili (280 µV a 20 GHz, 450 µV a 60 GHz tipico)
- TDR integrato con tempo di salita step tipico 10 ps
- Analisi completa jitter, rumore e BER di segnali PAM4 e PAM2 NRZ
- Automazione trasmettitore 100G-SR4 e TDEC (Transmitter Dispersion Eye Closure)
- Test maschera automatizzato con oltre 80 maschere standard del settore
- Supporto per standard nuovi ed emergenti tramite importazione maschera personalizzata
- Alta frequenza acquisizione campione: fino a 200 kS/s per canale
- Interfacce IEEE-488, Ethernet e processore locale
Applicazioni
- Test e verifica conformità comunicazioni ottiche
- Caratterizzazione collegamento ottico short-reach e long-haul
- Analisi e validazione segnale 400G PAM4
- Misure time domain reflectometry (TDR) e parametri S
- Test produzione e validazione conformità
- Sviluppo e validazione standard emergenti
Specifiche tecniche
| Intrinsic Jitter | Less than 100 femtoseconds |
| Optical Data Rate Range | 155 Mb/s to 400G PAM4 |
| Electrical Sampler Noise @ 20 GHz | 280 µV typical |
| Electrical Sampler Noise @ 60 GHz | 450 µV typical |
| TDR Step Rise Time | 10 ps typical |
| Sample Acquisition Rate | Up to 200 kS/s per channel |
| Standard Masks | Over 80 industry-standard masks |
| Measurement Functions | Jitter, noise, BER, mask testing, TDR, S-parameters |
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