Analizzatore di Capacità-Tensione Keithley 590

Panoramica

L'Analizzatore CV Keithley Modello 590 misura le caratteristiche di capacità rispetto alla tensione (C-V) e di capacità rispetto al tempo (C-t) dei dispositivi semiconduttori. Specificamente creato per il test dei dispositivi semiconduttori, il Modello 590 fornisce misurazioni CV ad alta frequenza essenziali per caratterizzare giunzioni p-n, giunzioni Schottky, dispositivi Metal-Insulator-Semiconductor (MIS), e validare le prestazioni di FET, celle di memoria, CCD e strutture di isolamento.

Caratteristiche Principali

• Intervallo di capacità: da 10 fF a 20 nF (fino a 20 nF a 100 kHz con adattatore Modello 5904)
• Intervallo di conduttanza: da 0,1 nS a 1 µS
• Sensibilità di 0,1 fF per il test di dispositivi piccoli
• Tensione del segnale di prova: 15 mV rms
• Funzionamento a doppia frequenza: 1 MHz (conformità agli standard esistenti) o 100 kHz (risoluzione e accuratezza migliorate)
• Velocità di misurazione selezionabile: da 1 a 1000 letture al secondo
• Filtro integrato per l'ottimizzazione della velocità/risoluzione
• Sofisticata correzione degli errori della linea di trasmissione per le connessioni dei dispositivi
• Setup di prova integrato e memoria dei valori di correzione, analisi e controllo del plotter