Analizzatore di Dispositivi Semiconduttori Keysight B1500A

Panoramica

Il Keysight B1500A è un analizzatore di dispositivi semiconduttori completo progettato per la caratterizzazione elettrica completa dalla ricerca di base ai test di produzione avanzati. La sua architettura modulare supporta fino a dieci moduli di misurazione, consentendo la configurazione per esigenze specifiche e capacità di aggiornamento man mano che i requisiti di misurazione si evolvono.

Capacità di Misurazione

• Misurazioni di corrente-tensione (IV): modalità spot, sweep, campionamento e impulso con intervallo di corrente 0.1 fA a 1 A e intervallo di tensione 0.5 µV a 200 V
• Misurazioni di capacità AC da 1 kHz a 5 MHz con capacità Capacità-Tensione Quasi-Statica (QS-CV)
• Misurazioni IV impulsate con intervallo di campionamento minimo di 5 ns (velocità di campionamento 200 MSa/s)
• Forzamento di impulsi ad alta tensione fino a 40 V per la caratterizzazione della memoria non volatile

Hardware e Interfaccia

• Schermo tattile da 15 pollici con piattaforma Windows 7 integrata
• Interfacce GPIB, USB, LAN per l'integrazione del sistema
• Porta di uscita video VGA
• Design modulare con dieci slot disponibili per moduli di misurazione

Software (Gruppo EasyEXPERT+)

L'ambiente di caratterizzazione integrato viene eseguito sulla piattaforma incorporata del mainframe o su PC esterni. Più modalità operative—test applicativi, test classici, test tracciatore, test rapidi e vista oscilloscopio—forniscono configurazioni di misurazione flessibili. Le funzioni di analisi automatizzata, visualizzazione grafica e gestione dei dati facilitano la valutazione efficiente dei dispositivi e la generazione di report. L'esportazione dei risultati in Excel e formati di immagine consente l'analisi.

Applicazioni

• Caratterizzazione e valutazione di dispositivi semiconduttori
• Test di componenti elettronici attivi e passivi
• Caratterizzazione e analisi di materiali
• Valutazione di dispositivi di memoria non volatile
• Test di dispositivi a livello di wafer con integrazione del probe