Microsemi 53100A Analizzatore di Rumore di Fase

Panoramica

Microsemi 53100A è uno strumento di caratterizzazione dell'oscillatore di precisione che misura l'ampiezza, la fase e la stabilità di frequenza delle fonti RF ad alte prestazioni. Supportando frequenze portanti da 1 MHz a 200 MHz, fornisce un'analisi di stabilità completa a scale temporali che vanno da femtosecondi a giorni, rendendolo adatto sia per sistemi ATE da banco che integrati in rack.

Caratteristiche Principali

• Deviazione di Allan (ADEV) tipicamente inferiore a 5E-15 a t=1s, 1E-16 a t=1000s
• Deviazione di Allan modificata (MDEV), deviazione di Hadamard (HDEV) e deviazione temporale (TDEV)
• Misurazioni del rumore di fase a banda laterale singola (SSB) e del rumore AM a offset da 0,001 Hz a 1 MHz, tipicamente al di sotto di -175 dBc/Hz
• Jitter temporale integrato RMS, FM residuo e rapporto portante/rumore SSB
• Frequenze di ingresso e riferimento indipendenti da 1 a 200 MHz
• Non è richiesto l'aggancio di fase o la calibrazione della misurazione
• Ingressi di oscillatore di riferimento singoli o doppi per misurazioni di correlazione incrociata
• Emulazione del comando TSC 51XXA e del flusso di dati per la compatibilità con script di test legacy
• Interfaccia grafica utente intuitiva
• Misurazioni oltre 200 MHz supportate con down-conversion esterna

Applicazioni

• Caratterizzazione e convalida dell'oscillatore
• Test di stabilità della frequenza della fonte RF
• Applicazioni di contatore di frequenza ad alta precisione