Sistema di Prova Keithley 2520 per Diodi Laser Pulsati

Panoramica

Il Sistema di Prova Keithley 2520 per Diodi Laser Pulsati è un sistema integrato sincronizzato progettato per testare diodi laser all'inizio del processo di produzione, prima dell'imballaggio o del controllo della temperatura attivo. Combina tutte le capacità di sourcing e misurazione necessarie per test LIV (light-current-voltage) pulsati e continui in un singolo strumento compatto a mezza cremagliera. La stretta sincronizzazione tra sorgente e misura garantisce un'elevata precisione anche con larghezza di impulso breve come 500ns, rendendola ideale per i test di produzione in processo dei diodi laser a livello di chip o barra.

Caratteristiche Principali

• Soluzione integrata per test LIV pulsati e continui dei diodi laser
• Capacità di impulso fino a 5A; capacità CC fino a 1A
• Tempo di accensione dell'impulso programmabile da 500ns a 5ms con ciclo di lavoro fino al 4%
• Precisione di misurazione a 14-bit su tre canali di misurazione (VF, fotodiodo anteriore, fotodiodo posteriore)
• Canali di misurazione sincronizzati basati su DSP per misurazioni altamente accurate di intensità luminosa e tensione
• Fino a 1000 punti di scansione archiviati in memoria buffer per eliminare il traffico GPIB durante il test
• L'algoritmo di misurazione aumenta il rapporto segnale-rumore della misurazione dell'impulso
• Operazioni di binning e gestione I/O digitali
• La scansione può essere programmata per fermarsi al limite di potenza ottica
• Interfacce IEEE-488 e RS-232

Applicazioni

• Test di produzione dei diodi laser a livello di chip o barra
• Assicurazione della qualità della produzione iniziale prima dell'imballaggio
• Caratterizzazione della potenza ottica e elettrica dei diodi laser
• Test pulsato e CC delle sorgenti ottiche a semiconduttore

Accessori Inclusi

• Manuale utente
• Guida di riferimento rapido
• Cavo Triax (Qty 2)
• Cavi coassiali BNC 10W (Qty 4)