Sonda e registratore di temperatura criogenica rigida Kaye VALPROBE XCVP1.5R
Kaye VALPROBE XCVP1.5R Cryo Rigid Temperature Probe/Logger
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Kaye XCVP1.5R è una sonda di temperatura criogenica e data logger con tecnologia RTD, che offre un intervallo di misurazione da -85°C a +140°C, autonomia della batteria estesa e funzionamento wireless.
Dettagli prodotto
| Modello | XCVP1.5R |
| Produttore | Kaye |
| Categoria | Registratori di Dati |
| Disponibilità | Su ordinazione |
Descrizione
Panoramica
Kaye VALPROBE XCVP1.5R è una sonda di temperatura criogenica e data logger progettata per applicazioni a temperatura ultra-bassa che richiedono un intervallo esteso e affidabilità. Utilizzando la tecnologia RTD, fornisce una misurazione accurata su un ampio intervallo da -85°C a +140°C, rendendola idonea per liofilizzatori, vasi criogenici e il monitoraggio di altri ambienti controllati.
Caratteristiche principali
- Intervallo di temperatura esteso da -85°C a +140°C per un monitoraggio criogenico e ad alta temperatura completo
- Tecnologia RTD per misurazioni accurate e affidabili
- Durata della batteria 3 volte superiore rispetto ai logger della generazione precedente
- Design della sonda rigida ottimizzato per la misurazione della superficie in condizioni di basso vuoto
- Funzionamento wireless per una trasmissione dati senza interruzioni
- Completamente compatibile con i sistemi multi-canale e single-reader esistenti
- Integrazione del software ValProbe per un'operazione senza interruzioni
Applicazioni
- Monitoraggio dei vasi criogenici
- Controllo della temperatura del liofilizzatore e convalida
- Operazioni di congelatore a bassa temperatura
- Monitoraggio del processo di sterilizzazione
- Registrazione della temperatura dell'incubatore
- Gestione del magazzino e dell'impianto di stoccaggio a freddo
Specifiche tecniche
| Temperature Range | -85°C to +140°C |
| Measurement Technology | RTD (Resistance Temperature Detector) |
| Battery Life | 3x longer than previous generation |
| Wireless | Yes |
| Probe Design | Rigid, optimized for surface measurement at low vacuum |
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